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III Jornada de Metrología

RNM invita a la comunidad metrológica a la III Jornada de Metrología

III Jornada de Metrologia

III Jornada de Metrologia La tercera versión de las Jornadas de Metrología se desarrollará el día viernes 11 de diciembre de 2015, a partir de las 08:30 h, en el Centro de Convenciones del Hotel Gran Palace. El programa contempla cuatro seminarios y la presencia de expertos internacionales.

Como ya se ha hecho habitual, la RNM invita a todos sus clientes y a la comunidad metrológica nacional a participar de un día dedicado la metrología y sus aplicaciones en los diversos sectores productivos del país.

Este año, la Jornada comprende el desarrollo de 4 seminarios, organizado por los integrantes de las Red que contarán con la presencia de expertos internacionales.

• Metales Pesados en Materiales de Referencia: Herramientas para su caracterización mediante Métodos Trazables y Normativos
Organiza: Instituto de Salud Pública (ISP) – Instituto Designado Química Agua y Alimentos

• Avances y Propuestas para mejorar las Mediciones de temperatura utilizando Termo Pares y Termómetros Digitales
Organiza: CESMEC S.A. – Instituto Designado Temperatura

• Charla técnica en el uso y control de roscas
Organiza: DICTUC S.A. – Instituto Designado Longitud

• Importancia de incorporar los valores de incertidumbre en los resultados de medición de los ensayos mecánicos
Organiza: Instituto de Investigaciones y Control (IDIC) – Instituto Designado Fuerza

Metrologia

El Seminario organizado por ISP contará con la presencia del Dr. Alberto Quejido Cabezas, Jefe de la División de Química del Departamento de Tecnología del Centro de Investigaciones Energéticas, Medioambientales y Tecnológicas (CIEMAT) de España. El Dr. Quejido ha desarrollado su carrera adquiriendo experiencia en mediciones mediante ICP-MS. Se ha desempeñado en el desarrollo de tecnologías químicas al desarrollo de nuevas fuentes de energía y su almacenamiento mediante sistemas químicos y electroquímicos. También ha trabajado en la caracterización analítica de materiales de interés energético y medioambiental, aplicación de técnicas matemáticas y estadísticas a los estudios medioambientales y a la garantía y control de calidad de los laboratorios químicos.
Por su parte, la charla técnica organizada por el DICTUC S.A. contará con la presencia del Ingeniero Jorge Campbell, especialista en metrología dimensional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de Argentina.
Finalmente, el Seminario organizado por IDIC contará con la presencia del Ing. Wilson Angulo quien es el Jefe del Laboratorio de Fuerza del Instituto Ecuatoriano de Normalización (INEN) y del representante de la empresa alemana HBM, Sr. Bruno Binora.
Junto a ellos, los Seminarios contarán con ponencias de expertos nacionales de los Institutos Designados de Chile, Ing Mauricio Araya, Ing. Juan Carlos Soto, Qco. Ariel Tirado y de otras organizaciones como el Sr. Roberto Figueroa del CIDE de la Universidad de Santiago y el Sr. Juan Echaurren de CODELCO División Chuquicamata.

Esta actividad es parte del Programa “Fortalecimiento y reconocimiento de las mejores capacidades de medición en la Red Nacional de Metrología” que es desarrollado con aportes del Fondo de Innovación para la Competitividad, del Ministerio de Economía, Fomento y Turismo.

El Programa de la Jornada así como el formulario de inscripción, se encuentran disponibles en el sitio www.metrologia.cl o pueden ser solicitados al correo electrónico lorena.zenteno@inn.cl

La actividad es gratuita y las inscripciones se recibirán en el correo lorena.zenteno@inn.cl

(2 / Diciembre / 2015)

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